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詳細摘要： 該導航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設計圖形和FIB的觀察圖像相對應起來。當CAD系統(tǒng)中的坐標位置，樣品臺就會通過鏈接移動到相應位置，就可以獲得相...

詳細摘要： 微型采樣方法(已在日本和美國取得zhuanli)已在半導體器件分析領域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STE...

詳細摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學系統(tǒng)，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質...

詳細摘要： 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。日立高新公司，整合了高...

詳細摘要： 通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構特定微區(qū)的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實...

詳細摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察。S...